2016年5月19日至20日,广州领拓与徕卡纳米技术部联合中山大学测试中心在中山大学测试大楼成功举办了“无机材料样 品超薄切片技术”交流会。为期两天的交流会,吸引了相关行业人士的支持与参与。 本次交流会特别邀请到瑞士Diatome公司Mr. Helmut Gnaegi博士主讲,Mr. Helmut Gnaegi来自瑞士,是超薄切片技术全球 第一人,也是徕卡总部在超薄切片技术方面的技术顾问和忠实合作伙伴。 中山大学分析测试中心材料微区分析平台赵文霞主任致开幕词 中山大学分析测试中心材料微区分析平台...