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MM400系列微量水/露点分析仪
SYSTECH 400系列采用了高品质氧化铝微量水探头在-100℃—+20℃宽量程范围内提供准确可靠的结果，免维护氧化铝探头是绝大多数高要求应用的主流选择。它广泛应用于各种工业系统中，实现对在线气体微量水分监测，适用于多种行业、多种环境下混合气体的露点检测。
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- 标乐Buehler 金相制样
- 徕卡Leica 光学显微观察
- 岛津Shimazu 元素分析与光谱仪
- 飞驰Fritsch 球磨粉碎与粒度分析
- 徕卡Leica 电镜制样
- 岛津Shimazu 表面分析
- 赛默飞世尔Thermo Fisher（FEI） 扫描电镜
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- 岛津Shimadzu 物理性分析
- C&W 盐雾箱
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- 岛津Shimadzu 无损检测
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- TQC /SHEEN涂料测试
- 宾得测试箱
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- 金相切片耗材
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测量范围：-110℃—+20℃
精 度：±1℃ -60℃—+20℃
±2℃ -120℃—-60℃
响应时间：湿气到干气 -20℃—+60℃ 小于60s
干气到湿气 -110℃—-20℃ 小于60s
可选择单位：露点温度℃或°F，ppm（v）
显示类型：5位数高清晰LED
连接口：1/8”OD卡套
样品压力：0.25—28.0 kg
样品流速：理想为0.5L/min
样品和环境温度：0—40℃
模拟输出：0—10V，0—100mV或4—20mV可选，全被隔离输出
电源要求：115/230VAC,50/60Hz
不适用气体：腐蚀性气体、汞、氨气、HCl、臭氧
性能特点
-110℃—+20℃量程自动切换
高水分环境中快速响应和恢复
错误报警功能
可选配远程传感器
RS485/RS325输出
本质安全型可选
校验结果NIST可追溯
