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XRF-1800型 扫描型X射线荧光光谱仪
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了世界首创的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高水平的完美程度
- 标乐Buehler 金相制样
- 徕卡Leica 显微镜
- 徕卡Leica 电镜制样
- 形创Creaform 三维扫描测量
- 卡博莱特盖罗Carbolite Gero 高温箱炉
- 埃尔特Eltra 碳 / 氢 / 氧 / 氮 / 硫元素分析仪
- 莱驰Retsch 粉碎、研磨、筛分
- 麦奇克莱驰Microtrac MRB 粒度粒形分析仪
- 鼎竑离子减薄
- 美墨尔特Memmert 温控箱体
- EM科特 台式扫描电镜
- 微旷 高性能原位X射线CT
- 英斯特朗Instron 力学测试
- Jenoptik(业纳) 长度测量仪器
- 泽攸科技台式扫描电镜&台阶仪
- TQC /SHEEN涂料测试
- 岛津Shimadzu 分析检测设备
- 其他设备
- 金相切片耗材
- INSTEC 冷热台
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技术特点•性能优异的光源，业界最低的外部条件要求，电压允许波动±10%，接地电阻≤30Ω
•世界首创波长色散荧光250µm微区分布分析，实现了异性样品和微量样品的分析
•独有的高级次谱线解析功能，可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件，快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法（BJ-FP）
•2015新型“定量-FP”法，实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析
