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EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪
配备高分辨率、高灵敏度SDD检测器，轻松应对复杂基体下的有害元素筛选分析，效率更高。具有X射线管自动老化功能。装置如长期不运行，该装置可自动运行该功能。
- 标乐Buehler 金相制样
- 徕卡Leica 显微镜
- 徕卡Leica 电镜制样
- 形创Creaform 三维扫描测量
- 卡博莱特盖罗Carbolite Gero 高温箱炉
- 埃尔特Eltra 碳 / 氢 / 氧 / 氮 / 硫元素分析仪
- 莱驰Retsch 粉碎、研磨、筛分
- 麦奇克莱驰Microtrac MRB 粒度粒形分析仪
- 鼎竑离子减薄
- 美墨尔特Memmert 温控箱体
- EM科特 台式扫描电镜
- 岛津Shimadzu 物理性分析
- 岛津Shimadzu 色谱
- 岛津Shimazu 元素分析与光谱仪
- 岛津Shimazu 表面分析
- 岛津Shimadzu 无损检测
- TQC /SHEEN涂料测试
- 微旷 高性能原位X射线CT
- 其他设备
- 金相切片耗材
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范围· 测定对象：固体、液体、粉末
· 测定范围：13AI-92U
· 一次滤光片：5种+OPEN自动交换
· 软件：筛选分析、镀层测厚分析、成分定量分析、解析软件定性分析，具有
自动校正功能（能量校正、半峰宽校正）
· 样品室尺寸：最大W370mm x D320mm x H155mm
