• ZEM Ultra场发射台式扫描电镜


    泽攸科技ZEM Ultra场发射台式扫描电镜——优于2.5nm超高分辨率桌面SEM。采用肖特基电子枪+三级真空系统,支持50万倍放大及EDS/EBSD分析。适用纳米材料、电池研发、半导体检测领域

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产品描述

ZEM Ultra 台式扫描电镜采用肖特基场发射电子源,三级独立真空设计,优于2.5nm的分辨率满足多数样品微纳结构表征需求。标配大束流及大样品仓,支持原位功能样品台及EDS/EBSD拓展。
特点与优势

▲ 易用性强

▲ 全自动操作

▲ 肖特基场发射电子枪

▲ 高稳定性

▲ 高分辨观测

▲ 丰富拓展
应用实例

标准参数

主要指标 ZEM Ultra
分辨率 ≤2.5 nm
放大倍数 100万倍
图像像素尺寸(默认) 512*512(视频)2048*2048(拍照)
加速电压 1-15kv连续可调
灯丝类型 场发射灯丝
电动样品台 XY二轴/XYZ三轴/XYT三轴/五轴
探测器类型 BSE、SE、EDS
减速模式 选配(0-10kv样品台电压减速)
光学导航 光学导航、仓内相机
样品仓内部尺寸 176mm宽*185mm长*125mm高
自动功能 自动亮度对比度、自动聚焦、大图拼接
原位台拓展功能 具备

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