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GU-MMP100表面粗糙度轮廓仪
GU-MMP100轮廓仪通过仪器的触针与被测表面的滑移进行精密测量,主要用于测量物体表面的粗糙度及轮廓形状,对于质量控制和产品研发至关重要。
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GU-MMP100表面粗糙度轮廓仪以其高精度和卓越的重复性脱颖而出,能够迅速且准确地测量各种物体表面的粗糙度参数,如Ra、Rz等。
它不仅提供精确的数值数据,还能将这些数据以图形形式展现,从而更直观地揭示物体表面的几何特征。
适用于多种材料,包括金属、塑料、陶瓷等,展现出广泛的适用性。无论是在科研、质量控制还是生产线上,它都是理想的选择。
尺寸:包含水平距离、垂直距离、线性距离、半径、直径
夹角:包含水平角、垂直角、夹角
位置公差:包含平行度、垂直度
形状公差:包含直线度、凸度、圆弧轮廓度
辅助生成:包含辅助点、辅助线、辅助圆
项目 |
参数 |
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测量范围 |
X轴驱动器 |
100mm |
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Z1(传感器) |
40mm |
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立柱行程 |
500mm |
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指示精度 |
X轴 (L=X轴移动导轨距离) |
±(1.2+0.02L)μm |
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Z1轴 (H=Z1轴方向测量高度) |
±(1.0+0.05H)μm |
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角度 |
≤±1.5′ |
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圆弧 (R=标准圆弧值) |
≤±(1.2+R/12)μm |
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X轴 |
直线度 |
0.8μm /100mm |
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分辨率 |
0.1μm |
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传感器 |
类型 |
光栅传感器 |
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分辨率 |
0.1μm |
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测针形状 |
25μm 12° |
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测针材质 |
硬质合金 |
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测量方式 |
传感器移动 |
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运动控制 |
导轨速度 |
0.02mm至6mm/s |
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立柱移动速度 |
0.1mm至10mm/s |
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测量速度 |
0.02mm至5.0mm/s |