• GU-MMP100表面粗糙度轮廓仪


    GU-MMP100轮廓仪通过仪器的触针与被测表面的滑移进行精密测量,主要用于测量物体表面的粗糙度及轮廓形状,对于质量控制和产品研发至关重要。

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特点与优势

GU-MMP100表面粗糙度轮廓仪以其高精度和卓越的重复性脱颖而出,能够迅速且准确地测量各种物体表面的粗糙度参数,如Ra、Rz等。

它不仅提供精确的数值数据,还能将这些数据以图形形式展现,从而更直观地揭示物体表面的几何特征。

适用于多种材料,包括金属、塑料、陶瓷等,展现出广泛的适用性。无论是在科研、质量控制还是生产线上,它都是理想的选择。

测量功能

尺寸:包含水平距离、垂直距离、线性距离、半径、直径
夹角:包含水平角、垂直角、夹角
位置公差:包含平行度、垂直度
形状公差:包含直线度、凸度、圆弧轮廓度
辅助生成:包含辅助点、辅助线、辅助圆
技术参数

项目

参数

测量范围

X轴驱动器

100mm

Z1(传感器)

40mm

立柱行程

500mm

指示精度

X

L=X轴移动导轨距离)

±(1.2+0.02L)μm

Z1

H=Z1轴方向测量高度)

±(1.0+0.05H)μm

角度

≤±1.5

圆弧

R=标准圆弧值)

≤±(1.2+R/12)μm

X

直线度

0.8μm /100mm

分辨率

0.1μm

传感器

类型 

光栅传感器

分辨率

0.1μm

测针形状

25μm  12°

测针材质

硬质合金

测量方式

传感器移动

运动控制

导轨速度

0.02mm6mm/s

立柱移动速度

0.1mm10mm/s

测量速度

0.02mm5.0mm/s

应用实例

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