特点与优势

系列的亮点
– Xmove 20 进给装置可用于各种不同的测量要求
– 集成启动按钮，可单手操作
– 可选 MS300 紧凑型测量站，用于测量室或生产车间
– 可选配带倾斜装置的高度测量支架 HS300，
用于精确定位探头
– 解决所有常见的粗糙度、波纹度和微观轮廓测量任务
– 无导头传感器和测针的种类很多，可供选择
适用于各种应用场合
– 测头自动调零， 探头在工件表面的自动定位
– 可测量所有位置，还可仰测 (取决于探头）
– 具有不同的测量速度
– 使用 Evovis Mobile Standard 进行 PC 支持的评估
– 所有现行标准，包括新的 ISO 21920 系列标准
– 灵活的程序编辑和结果记录
– 导出特征值和剖面图，可选统计界面

仪器参数

仪器参数：

最大测量长度：20 ㎜
测量速度：0.2--2 mm/s
驱动器和主机连接方式：USB-C

测量范围/分辨率：±300 μm/1 nm

可评价参数：
DIN EN ISO 21920:
Ra, Rq, Rsk, Rku, Rt, Rzx(l), Ral(s), Rsw, Rdq, Rda, Rdt, Rdl, Rdr, Rml(c), Rmc(c), Rcm(p), Rhd(c), Rvm(p), Rvv(p), Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Rmrk1, Rmrk2, Rak1, Rak2, Rpq, Rvq
Pa, Pq, Psk, Pku, Pt, Pzx(l), Pal(s), Psw, Pdq, Pda, Pdt, Pdl, PdP, Pml(c), Pmc(c), Pcm(p), Phd(c), Pvm(p), Pvv(p), Pk, Ppk, Pvk, Ppkx, Pvkx, PmPk1, PmPk2, Pak1, Pak2, Ppq, Pvq
Wa, Wq, Wsk, Wku, Wt, Wzx(l), Wal(s), Wsw, Wdq, Wda, Wdt, Wdl, WdW, Wml(c), Wmc(c), Wcm(p), Whd(c), Wvm(p), Wvv(p)

DIN EN ISO 4287:2010:
Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RΔq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc. RPc
Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PΔq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, PPc
Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WΔq, Wmr, C(Wmr), Wmr(c), Wdc, WPc

DIN EN ISO 13565-2, - 3:Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rpk*, Rvk*, A1, A2 Rpq, Rvq, Rmq

DIN EN ISO 12085:R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw

ISO 4287:1987, DIN 4762:Rmax, RzISO, D, Δa, Δq, L0, LR

DIN EN ISO 4288:R1max

JIS B-0601:Rz-JIS

DIN EN 10049/ SEP 1941:RPc,Wsa, Wca, Wa08
精度：5%