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导头式便携式粗糙度仪W15
Waveline W15.移动式无线粗糙度测量系统,可用于测量室和生产车间
- 标乐Buehler 金相制样
- 徕卡Leica 显微镜
- 徕卡Leica 电镜制样
- 形创Creaform 三维扫描测量
- 卡博莱特盖罗Carbolite Gero 高温箱炉
- 埃尔特Eltra 碳 / 氢 / 氧 / 氮 / 硫元素分析仪
- 莱驰Retsch 粉碎、研磨、筛分
- 麦奇克莱驰Microtrac MRB 粒度粒形分析仪
- 鼎竑离子减薄
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– 使用无线驱动箱 LV17 实现移动且无需电网电源
– 集成启动按钮,可单手操作
– 通过 Bluetooth® 接口进行无线数据传输
– 可选高度测量支架 HS300,用于测量任务、需要精确定位
– 可选的紧凑型 MS300 测量站,可在生产车间或测量室固定使用
– 解决所有常见的粗糙度测量任务
– 所有位置和方向的测量,包括向上测量
– 不同的测量速度
– 使用 Evovis Mobile Standard 进行 PC 支持的评估
– 所有现行标准,包括新的 ISO 21920 系列标准
– 灵活的程序编辑和结果记录
– 导出特征值和剖面图,可选统计界面
– 多种测头可供选择
仪器参数:
最大测量长度:17.5㎜
测量速度:0.15 | 0.5 | 1 mm/s
驱动器和主机连接方式:USB、蓝牙
测量范围/分辨率:T1E测针:±100μm/6nm
DIN EN ISO 21920:
Ra, Rq, Rsk, Rku, Rt, Rzx(l), Ral(s), Rsw, Rdq, Rda, Rdt, Rdl, Rdr, Rml(c), Rmc(c), Rcm(p), Rhd(c), Rvm(p), Rvv(p), Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Rmrk1, Rmrk2, Rak1, Rak2, Rpq, Rvq
DIN EN ISO 4287:2010:
Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RΔq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc. RPc
DIN EN ISO 13565-2, - 3:Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rpk*, Rvk*, A1, A2 Rpq, Rvq, Rmq
DIN EN ISO 12085:R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw
ISO 4287:1987, DIN 4762:Rmax, RzISO, D, Δa, Δq, L0, LR
DIN EN ISO 4288:R1max
JIS B-0601:Rz-JIS
DIN EN 10049:RPc
精度:5%