圆满落幕｜中山大学电镜制样技术专题研讨会，共探微观领域新征程

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春和景明，智聚同行。2026 年 3 月 31 日，由中山大学分析测试中心主办，徕卡显微系统、广州领拓仪器联合协办的电镜制样技术专题研讨会在中山大学东校区圆满落幕。本次会议聚焦前沿制样技术、多领域应用与实操教学，现场座无虚席，为电镜领域工作者带来一场干货满满的技术盛宴。

会议核心亮点

本次会议由中山大学分析测试中心赵文霞研究员主持，行业专家围绕样品制备核心技术与前沿应用场景展开深度分享，精准覆盖科研实操痛点。

1. 超薄切片与离子束切割技术实战解析

董鑫老师（中山大学分析测试中心）

结合COF 薄膜、钙钛矿、固态电池、多孔复合材料等多类典型样品，进行实例分析，系统拆解了超薄切片技术在复杂体系中的应用要点。

江丹老师（华南师范大学）

从切片环境、材料适配、槽型功能多角度详解钻石刀应用，为不同材质的制样提供了精准方案。

陈锋老师（广州计量检测技术研究院）

聚焦离子束切割制样技术，重点讲解样品固定、位置调节、切割参数等核心要点，并分享粉末、极片、薄膜、纤维素膜、质子交换膜、纸张等多类样品的实操案例。

2. 特殊样品前沿制样方案

包沈源博士（徕卡显微系统）

针对含液体 / 空气敏感样品与锂电池研发，提供全流程制样路线，解决敏感材料的测试难题。

3. 徕卡高端显微技术应用

王健老师（徕卡显微系统）

聚焦五维表征技术，详解了多功能白激光共聚焦成像系统在新能源电池、锂电原位观察、钙钛矿、高分子聚合物、石油化工等领域的应用，同时介绍了世界上最快的拉曼技术与相干拉曼的广阔应用前景。

现场互动与设备展示

午后的技术交流环节，徕卡多款核心制样设备(超薄切片机UC ENUITY、三离子束研磨仪EM TIC3X、精研一体机EM TXP等)现场亮相。领拓仪器与徕卡技术团队提供一对一答疑，直观演示实操流程，将理论知识转化为实战技能，获得参会者高度赞誉。

此次会议的圆满落幕，是领拓仪器、徕卡与中山大学深化合作的重要里程碑。未来，我们将继续搭建高水平技术交流平台，赋能科研创新，携手共探微观世界新可能！

特别鸣谢：中山大学分析测试中心、徕卡显微系统及所有参会同仁的倾情支持。

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