强势来袭！STELLARIS，重新定义共聚焦

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激光共聚焦扫描显微镜能够实现样品普通光学显微观察（如明场，暗场，偏光， C-DIC ，荧光等）的同时，也能够实现样品快速原位的高分辨三维表面成像，是材料研究分析的多维度和多尺度分析的解决方案，配置共聚焦荧光、 FLIM、STED、DLS和CRS等模块还能够实现生物材料样品高分辨荧光表征、荧光寿命、超分辨观察等研究。

01观察更多的洞察力
洞察入微
收集准确数据

Power HyD检测器系列提供更高的光子检测效率（PDE），较低的暗噪声，以及从410到850纳米的广域高灵敏度检测。

增强的图像质量

STELLARIS兼顾了图像的亮度、分辨率和对比度，可进行高分辨的金相分析。

光谱自由

新一代白激光允许同时使用多达8条来自整个光谱的单一激发谱线。与其他任何共焦平台相比，您可以对更多的荧光体组合进行成像，并同时使用更多的标签，同时将选择范围扩大到近红外范围。

信号检测超灵敏

与传统的光电倍增管 (PMT) 相比，光子检测效率 (PDE) 提高到2倍，在近红外一区内更是提高3倍。

02探索更多的高潜力
全新信息维度
尽在眼前

STELLARIS独特的TauSense技术能够从每个样品中提取额外的信息，并增加你的研究的科学影响。TauSense由基于荧光寿命的面向应用的成像工具组成，可以对材料进行表面缺陷定位和分析以及发光缺陷观察。

STELLARIS搭载荧光寿命成像功能，一种正交于荧光强度并可相互参照的成像模式。

崭新的信息维度

运用 TauContrast 可提供即时的功能信息，例如代谢状态、酸碱度和离子浓度，获得额外的维度以及崭新的、未曾探索过的深入视角，为您的研究带来巨大的潜在价值。

超越光谱的多维度

即使发射光谱波段完全重叠，TauSeparation技术也可能将样品组分分离。基于荧光寿命的信息可补充光谱信息,从而扩大同时检测通道的数量。

运用 TauGating 技术在保留目标信号的同时去除多余的自发荧光，从而提高检测效率。

即使有内在干扰信号，您仍可轻松地从样品中提取相关信息。

03完成更多的生产力
复杂成像
亦可化繁为简

简化的设置和采集。ImageCompass是STELLARIS的智能用户界面，为用户提供了一种简单直观的方式，即使是复杂的实验也只需点击几下就能设置好。

简单快速

通过LIGHTNING高分辨率、动态信号增强（DSE）和强大的AI功能AiviaMotion，实时、全速地提供高质量的图像。

直观的用户界面

ImageCompass引导你从实验设置到采集全流程。

优化你的实验

整合LAS X Navigator工具，快速概览全局，直观成像。

“拖-放”添加荧光探针

自动优化激发和检测

直觉化操作设计

自动配置成像参数

04共聚焦显微镜STELLARIS 5 & STELLARIS 8

STELLARIS 5

STELLARIS 5是一个重新设计的核心系统，树立了共聚焦显微领域的新标准。它是仅有的一个内置WLL的共聚焦系统，并与声光分光器（AOBS）以及新的Power HyD S探测器相结合。STELLARIS 5采用独特的TauSense新技术，在图像质量和所产生的信息数量方面树立起新的标准。智能用户界面ImageCompass可轻松、直观地引导您通过所有实验装置采集数据，获得优异的成像性能。

STELLARIS 8

STELLARIS 8是未来导向性系统，具有扩展光谱的WLL和专有的Power HyD系列探测器选项，不仅提供STELLARIS 5核心系统的所有优势，还有额外增添的功能。STELLARIS 8能够与所有徕卡显微系统模块相结合，包括快速寿命成像（FALCON）、光谱式多光子显微镜（DIVE）、nm显微镜STED、光片（DLS）和CARS。STELLARIS 8的新特点可更大程度利用这些模块的潜力，使您能够为科学研究树立起新的标准。

05产品应用领域

金属 / 高分子 / 陶瓷材料

表面粗糙度分析，高分辨金相分析，摩擦磨损分析，断口分析，腐蚀研究，原位分析。

微纳加工

结构分析，表面粗糙度分析，高深宽比结构表征，膜厚测量。

半导体和微电子

表面缺陷定位和分析、发光缺陷观察，表面粗糙度分析，膜厚测量等。

医疗器械检测

表面粗糙度分析，金相分析，膜厚测量，微生物观察等。

生物材料和医学

金属表面细胞生长研究，微生物金属腐蚀研究，植入物表面细菌生长表征等。

领拓仪器于2012年开始代理徕卡品牌，拥有十多年的经验积累和强大的技术支持团队。目前领拓仪器是徕卡显微镜的华南、西南授权代理商。

了解更多新一代共聚焦显微系统STELLARIS相关产品信息，欢迎前来咨询沟通。

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